規格（SPECIFICATION）：
          - 波長：1064nm
          - 光源直徑：1mm
          - 量測範圍：1us-1ms
          - 量測速度：0.1s/point

  應用（APPLICATION）：
          Solar Cell:
           - 矽晶片／Material Quality Control
           - 製程監控/Process Control
           - 擴散／Diffussion
           - 抗反射／ARC